A63.7081 Schottky Alan Emisyon Tabancası Taramalı Elektron Mikroskobu Pro FEG SEM, 15x~800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Kısa Açıklama:

15x~800000x Schottky Alan Emisyon Tabancası Taramalı Elektron Mikroskobu
Kararlı Işın Akımı İle E-Işın Hızlandırma Alçak Gerilim Altında Mükemmel Görüntü
İletken Olmayan Örnek Doğrudan Gözlenebilir Alçak Gerilimde Püskürtmeye Gerek Yok
Windows Sisteminde Tümü Fare Tarafından Kontrol Edilen Kolay ve Kolay Kullanım Arayüzü
Beş Eksenli Büyük Örnek Odası Eucentric Motorlu Sahne Büyük Boy, Max Numune Çapı.320mm
Minimum sipariş miktarı:1

–>

Bize e-posta gönder

Ürün ayrıntısı

Ürün etiketleri

A63.7081_01.jpg

Ürün Açıklaması

A63.7081 Schottky Saha Emisyon Tabancası Taramalı elektron mikroskobu Profesyonel FEG SEM
Çözünürlük		1nm@30KV(SE); 3nm@1KV(SE); 2.5nm@30KV(BSE)
Büyütme		15x~800000x
Elektron silahı		Schottky Emisyon Elektron Tabancası
Elektron Işın Akımı		10pA~0.3μA
Hızlandırılmış Yolculuk		0~30KV
Vakum sistemi		2 İyon Pompası, Turbo Moleküler Pompa, Mekanik Pompa
dedektör		SE: Yüksek Vakumlu Sekonder Elektron Dedektörü (Dedektör Korumalı)
		BSE: Yarı İletken Dört Segmentasyon Geri Saçılma Dedektörü
		CCD
Numune Aşaması		Beş Eksenli Eucentric Motorlu Sahne
Seyahat Aralığı	X	0~150mm
	Y	0~150mm
	Z	0~60mm
	R	360º
	T	-5º~75º
Maksimum Numune Çapı		320mm
değişiklik		EBL;STM;AFM;Isıtma Aşaması;Cryo Aşaması;Çekme Aşaması;Mikro-nano Manipülatör;SEM+Kaplama Makinesi;SEM+Lazer Vb.
Aksesuarlar		X-Ray Dedektörü (EDS), EBSD, CL, WDS, Kaplama Makinesi Vb.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Avantaj ve Durumlar

Taramalı elektron mikroskobu (sem), metallerin, seramiklerin, yarı iletkenlerin, minerallerin, biyolojinin, polimerlerin, kompozitlerin ve nano ölçekli tek boyutlu, iki boyutlu ve üç boyutlu malzemelerin (ikincil elektron görüntüsü, geri saçılan elektron görüntüsü). Mikro bölgenin nokta, çizgi ve yüzey bileşenlerini analiz etmek için kullanılabilir. Petrol, jeoloji, mineral alanı, elektronik, yarı iletken alanı, tıp, biyoloji alanı, kimya endüstrisi, polimer malzeme alanında yaygın olarak kullanılmaktadır. kamu güvenliği, tarım, ormancılık ve diğer alanlarda cezai soruşturma.